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Microelectronics Reliability :
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Microelectronics Reliability :
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einspruch, norman g
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1.
Microelectronics Reliability : An International Journal & World Abstracting Service
订购中
著者:
出版社:
Pergamon Press,
出版日期: 1964-
文献类型:
期刊 , 索书号:
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内容简介
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2.
宽禁带半导体器件耐高温连接材料、工艺及可靠性
订购中
著者:
萧景雄
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
TN304.2/12
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3.
微电子封装和集成的建模与仿真:制造、可靠性和测试:manufacturing, reliability and testing
订购中
著者:
刘胜
刘勇
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2021
文献类型:
中外对照图书 , 索书号:
TN405.94/1/E
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4.
Silicon surfaces and formation of interfaces:basic science in the industrial world
订购中
著者:
布罗夫斯基
穆塞尔堡
出版社:
世界图书出版公司
出版日期: 2003
文献类型:
中外对照图书 , 索书号:
O649.2
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著者简介
5.
VLSI electronics : microstructure science,. v. 2 /
订购中
著者:
Einspruch
Norman G.
出版社:
Academic Press,
出版日期: 1981-1993.
文献类型:
图书 , 索书号:
TN47/E2:2
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内容简介
著者简介
6.
VLSI electronics : microstructure science,. v. 1 /
订购中
著者:
Einspruch
Norman G.
出版社:
Academic Press,
出版日期: 1981.
文献类型:
图书 , 索书号:
TN47/E2:1
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